Microscópio de Força Atômica projetado para fácil integração com os Microscópios Eletrônicos de Varredura. A combinação de técnicas complementares de AFM e SEM permite que você use as vantagens de ambas as técnicas de microscopia comumente usadas.
![Oxford Instruments](https://altmann.com.br/wp-content/uploads/2020/11/oxford-instruments.png)
Integração com os Microscópios Eletrônicos de Varredura
Microscópio de Força Atômica projetado para fácil integração com os Microscópios Eletrônicos de Varredura. A combinação de técnicas complementares de AFM e SEM permite que você use as vantagens de ambas as técnicas de microscopia comumente usadas.
A tecnologia única de imagem correlativa multidimensional permite a aquisição simultânea de dados de SEM e AFM e sua correlação perfeita em imagens 3D.
Todas as medições são feitas ao mesmo tempo, no mesmo local e nas mesmas condições, evitando a necessidade de transferência de amostras e risco de contaminação durante as análises.
Abordagem extremamente precisa e que economiza tempo usando SEM para localizar e navegar o AFM para a região de interesse.