Microscópio de Força Atômica projetado para fácil integração com os Microscópios Eletrônicos de Varredura. A combinação de técnicas complementares de AFM e SEM permite que você use as vantagens de ambas as técnicas de microscopia comumente usadas.
Integração com os Microscópios Eletrônicos de Varredura
Microscópio de Força Atômica projetado para fácil integração com os Microscópios Eletrônicos de Varredura. A combinação de técnicas complementares de AFM e SEM permite que você use as vantagens de ambas as técnicas de microscopia comumente usadas.
A tecnologia única de imagem correlativa multidimensional permite a aquisição simultânea de dados de SEM e AFM e sua correlação perfeita em imagens 3D.
Todas as medições são feitas ao mesmo tempo, no mesmo local e nas mesmas condições, evitando a necessidade de transferência de amostras e risco de contaminação durante as análises.
Abordagem extremamente precisa e que economiza tempo usando SEM para localizar e navegar o AFM para a região de interesse.