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  • APD1

    Serra de precisão anular e periférica

    A serra de precisão APD1 da Logitech é uma serra anular e periférica combinada, ideal para cortar amostras como wafers, cristais ou componentes semicondutores de até 55 mm de diâmetro com perda mínima de kerf ou para corte de precisão de wafers de até 100 mm (4 ″) de diâmetro.

    Serra anular e periférica combinada, ideal para cortar amostras como wafers, cristais ou componentes semicondutores

    Oferecendo a opção de uma combinação única de corte anular e recursos de corte periférico em uma serra de precisão, o corte de wafers semicondutores do boule de cristal e seu subsequente corte em substratos podem ocorrer em uma unidade.

    O APD1 é projetado para permitir que as amostras sejam cortadas e fatiadas de maneira precisa e fina com o mínimo de danos à superfície e perda de kerf. A operação automática programada permite que cortes repetidos sejam feitos em espessuras e diâmetros selecionados, permitindo uma operação totalmente autônoma.

    A serra é facilmente operada por meio de parâmetros definidos, como profundidade de corte, espessura de corte e o número de cortes a serem executados.

    A serra de precisão APD1 é uma ferramenta eficaz em aplicações como:

    • Corte e wafer de cristais
    • Seccionamento de componentes eletrônicos
    • Componentes semicondutores de corte
    • Encaixe em profundidade

    e o corte de uma ampla gama de vidros, cerâmicas, amostras de rochas e materiais eletro-ópticos.

    Aplicável para silício, niobato de lítio, tantalato de lítio, óxido de silício bismuith, titanato de bário e materiais semelhantes. Seja para produção de infravermelho e guia de onda de polímero ou polimento de cabo de fibra óptica.

    Os materiais semicondutores são usados em uma ampla variedade de dispositivos, como transistores de efeito de campo (MosFets, Fets), circuitos integrados (ICs, MMICs, ASICs), matrizes de plano focal e detectores de infravermelho.