Epsilon 3^XLE 

Espectrômetro de fluorescência de Raios X por energia dispersiva (EDXRF) de bancada Epsilon 3^XLE para análise química elementar não destrutiva de C a Am utilizado no controle de processos industriais e em pesquisa e desenvolvimento.

Este sistema possui um tubo cerâmico, capacidade de excitação de 50kV e 3mA,

incluindo a mais recente tecnologia de detecção silicon drift.

O Epsilon 3 ^XLE é capaz de analisar de forma rápida e precisa os materiais mais diversos, podendo ser líquidos, sólidos, pós soltos, vidros, metais, lamas, filtros, etc.

Concentrações a níveis de PPM a 100% do elemento na amostra podem ser quantificados.